自激法介损分析仪是CVT二次出线端子板受潮时,现场用自激法分别测量主电容C1和分压电容C2的介质损耗均增大。根据高压西林电桥的测量原理,对二次出线板受潮时测量回路的等值电路及相应的向量进行分析,得出使介质损耗增大的原因。对受潮的二次出线端子板进行干燥后,介质损耗恢复到了合格值。
自激法介损分析仪采用“自激法”测电容器的介损时,厂家规定小于0.2%,因为采用“自激法”测得的电容介损不只是电容分压器本身的介损,它包含了电容分压器的介损及电磁单元部分的介损,尤其当环境湿度较大时,端子板受潮,带来的影响将更大。“自激法”测量误差从理论上分析是存在的,但作为工程测量,缺陷检测是允许的。(建议在干燥处测量)
自激法介损分析仪**措施
(1)高压保护:试品短路、击穿或高压电流波动,能迅速切断高压输出。
(2)CVT保护:设定自激电压的过流点,一旦超出设置的电流值,仪器自动退出测量,不会损坏设备。
(3)接地检测:仪器有接地检测功能,未接地时不能升压测量。
(4)防误操作:具备防误操作设计,能判别常见接线错误,**报警。
(5)防“容升”:测量大容量试品时会出现电压抬高的“容升”效应,仪器能自动跟踪输出电压,保持试验电压恒定。
自激法介损分析仪技术参数
>使用条件:-5℃∽40℃ RH<80%
>电 源:AC 220V±10% 频率无限制
>高压输出:1KV∽10KV 每隔1kV
精 度 5%
*大电流 140mA
容 量 1000VA
>CVT自激电源:AC 0V∽30V 45HZ/55HZ
*大电流 15A
>分 辨 率:tgδ: 0.001% Cx: 0.1pF
>精 度:△tgδ:±(读数*1.0%+0.040%)
△C x :±(读数*1.0%+1.0PF)
>测量范围:tgδ 无限制
C x 15pF<Cx<100000 pF
10KV Cx<30000 pF
5KV Cx<60000 pF
1KV Cx<100000 pF
CVT测试 Cx<100000 pF
>外型尺寸:470(L)×320(W)×390(H)
>重 量:30 Kg
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